測(cè)試原理及方法：

　　高光譜成像技術(shù)是近二十年來(lái)發(fā)展起來(lái)的基于非常多窄波段的影像數(shù)據(jù)技術(shù)，其突出的應(yīng)用是遙感探測(cè)領(lǐng)域，并在越來(lái)越多的民用領(lǐng)域有著更大的應(yīng)用前景。它集中了光學(xué)、光電子學(xué)、電子學(xué)、信息處理、計(jì)算機(jī)科學(xué)等領(lǐng)域的先進(jìn)技術(shù)，是傳統(tǒng)的二維成像技術(shù)和光譜技術(shù)有機(jī)的結(jié)合在一起的一門(mén)新興技術(shù)。

　　高光譜成像技術(shù)的定義是在多光譜成像的基礎(chǔ)上，在從紫外到近紅外的光譜，利用成像光譜儀，在光譜覆蓋范圍內(nèi)的數(shù)十或數(shù)百條光譜波段對(duì)目標(biāo)物體連續(xù)成像。在獲得物體空間特征成像的同時(shí)，也獲得了被測(cè)物體的光譜信息。

　　光譜儀的光譜分辨率由狹縫的寬度和光學(xué)光譜儀產(chǎn)生的線(xiàn)性色散確定。小光譜分辨率是由光學(xué)系統(tǒng)的成像性能確定的（點(diǎn)擴(kuò)展大?。?。

　　成像過(guò)程為：每次成一條線(xiàn)上的像后（X方向），在檢測(cè)系統(tǒng)輸送帶前進(jìn)的過(guò)程中，排列的探測(cè)器掃出一條帶狀軌跡從而完成縱向掃描（Y方向）。綜合橫縱掃描信息就可以得到樣品的三維高光譜圖像數(shù)據(jù)。

　　高光譜圖像分類(lèi)方法與傳統(tǒng)的多光譜分類(lèi)有本質(zhì)的區(qū)別，從高光譜圖像的每個(gè)像元均可以獲取一條連續(xù)的波譜曲線(xiàn)，就可以考慮用已知的波譜曲線(xiàn)和圖上每個(gè)像元獲取的波譜曲線(xiàn)進(jìn)行對(duì)比，理想情況下兩條波譜曲線(xiàn)一樣，就能說(shuō)明這個(gè)像元是哪種物質(zhì)。我們把高光譜圖像分類(lèi)、物質(zhì)識(shí)別、探測(cè)等稱(chēng)為波譜識(shí)別。

　　波譜分析方法有很多，包括：二進(jìn)制編碼、波譜角分類(lèi)、線(xiàn)性波段預(yù)測(cè)、線(xiàn)性波譜分離、光譜信息散度、匹配濾波、混合調(diào)諧匹配濾波、包絡(luò)線(xiàn)去除、光譜特征擬合、多范圍光譜特征擬合等。

　　利用高光譜成像儀獲取900-1700nm近紅外波段中藥樣品：三藥粉、當(dāng)歸粉、天麻粉、芡實(shí)粉、杜仲粉為樣本。